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  フォトルミネッセンス測定装置

化合物半導体評価装置サイト

フォトルミネッセンス(ホトルミネッセンス)測定装置 ラインナップ

化合物半導体の評価に最適。
基礎研究からマッピングルーチン測定まで、幅広いニーズにお応えします。

概要
非破壊、非接触による、化合物半導体の組成評価、欠陥評価、量子井戸の評価、不純物評価、結晶性評価が行えます。
用途
  • 化合物半導体エピ層の組成分析
  • 発光材料の欠陥
  • 界面の評価
  • 光集積回路の非破壊評価
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