シリコン中の不純物の定量分析
シリコン中の不純物(P、B、Al、As)濃度の定量分析が高速で行えます。
通常、Ge検出器か、PMT検出器を使用し、分光器をスキャンして、近赤外領域を高分解能測定しなければ得られなった
スペクトルが、SymphonyUGAアレイ検出器を使用することにより、数秒から数十秒でSNの良いスペクトルが得られます。
不純物の定量分析を行う場合、波長領域の異なる2つのスペクトルが必要ですが、FHR1000との組み合わせで、
高速測定が可能になりました。
FHR1000+SymphonyIGAで測定