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グレーティング(回折格子)
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グレーティング(回折格子)
グレーティング(回折格子)
モノクロメータ/検出器
製品名
型式
イメージングスペクトロメータ
iHR320
MicroHRシリーズ
FHRシリーズ
TRIAXシリーズ
Mシリーズ/750シリーズ
Hシリーズ/CPシリーズ/Gemini180
Synapse CCD検出器
Sygnature CCD検出器
Symphony CCD 検出器
Symphony IGA
光源
ICP発光分析装置
製品名
型式
ICP発光分析装置(シーケンシャルシリーズ)
ACTIVAシリーズ
ICP発光分析装置(シーケンシャルシリーズ)
ULTIMA2
ICP発光分析装置(シーケンシャルシリーズ)
JY2000-2
ICP発光分析装置(モノクロメータ + ポリクロメータ)
ULTIMA-2C、ULTIMA-2C HR
ICP発光分析装置(ポリクロメータ)
PANORAMA PANORAMA HR
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置
製品名
型式
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置
GD-Profiler2
蛍光分光測定装置
製品名
型式
モジュール型蛍光分光測定装置
Fluorolog-3
近赤外蛍光分光測定装置
Fluorolog-NIR
蛍光分光光度計
FluoroMax-4
蛍光分光光度計
FluoroMax-TCSPC
蛍光リン光分光光度計
FluoroMax-4P
蛍光寿命測定装置
Fluorolog-3 + TCSPC
蛍光寿命マッピングシステム
FluoroMap
蛍光寿命測定装置
製品名
型式
TCSPC(時間相関単一光子計数法)蛍光寿命測定装置
FluoroCube
蛍光寿命測定装置
Fluorolog-3 + TCSPC
分光エリプソメータ(膜厚計)
製品名
型式
可視分光エリプソメータ
MM-16
分光エリプソメータ
UVISEL
全自動超薄膜計測システム
UT-300
全自動薄膜計測システム(液晶用分光エリプソメータ)
FF-1000
半導体・液晶プロセスモニタ
製品名
型式
プラズマ発光分析エンドポイントモニタ
DigiCPM_J
干渉式リアルタイム膜厚モニタ
LEM-CT-670-G50/G120
干渉式リアルタイム膜厚モニタ
DIGILEM-CPM-Xe/Halogen
カソードルミネッセンス測定システム
製品名
型式
カソードルミネッセンス
スペクトル測定システム
MP-VSシリーズ
カソードルミネッセンス測定システム
MP-32S/M
フォトルミネッセンス測定装置
製品名
型式
顕微フォトルミネッセンス測定装置
LabRAM-HR PL
シリコン定量分析用
PHOTOLUMINOR-D
高性能分光分析用
PHOTOLUMINOR-S
フォトルミネッセンス測定装置
PHOTOLUMINOR-U
ラマン分光測定装置
製品名
型式
顕微レーザラマン分光測定装置
LabRAM ARAMIS
倒立顕微ラマン装置
Inverted Raman Microscope
ラマン分光/FT-IR測定装置
LabRAM IR
レーザラマン装置
LabRAM HR-800
ダブルラマン分光装置
U-1000
トリプルラマン分光装置
T-64000
鑑識関連装置
製品名
型式
犯罪捜査用光源装置
CRIMESCOPE
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