HORIBA JOBIN YVON

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  蛍光寿命測定装置
概要
光化学や高分子化学、生化学、半導体物理など様々な分野において、分子や結晶の反応過程を詳細に分析することがますます重要になってきています。そのため、蛍光測定においても、定常スペクトルから得られる情報に加え、それぞれの物質の蛍光寿命を測定・分析することによって、発光過渡現象をよりダイナミックに把握する必要性が一段と高まっています。
蛍光寿命とは、試料にパルス光を照射して励起状態となってから、蛍光を放出して元の状態に戻るまでの時間のことで、一般にナノ秒オーダの値を持ちます。
HORIBAは、その卓越した高速計測技術を駆使して、蛍光寿命測定装置を1980年代初頭に国産では初めて開発以来、各方面で高い評価を得てきました。

HORIBA製 『時間分解フォトルミネッセンス・蛍光分光光度計NAES-700F/L』はお取り扱いを終了させていただきました。
今後は当ページでご紹介している『TCSPC(時間相関単一光子計数法)蛍光寿命測定装置 FluoroCube』をご利用下さい。

蛍光分光法の原理
カタログ 論文 アプリケーションノート 参考文献
製品目次
TCSPC(時間相関単一光子計数法) 蛍光寿命測定装置 FluoroCube 蛍光寿命測定装置(時間相関単一光子計数法) SPEX Fluorolog-3 + TCSPC 蛍光寿命測定装置(多変調位相差法) MF2(エムエフスクエア)  
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蛍光寿命測定装置
(位相差法)
SPEX Fluorolog-3 TAU
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用途
光化学・光物性
  • 有機EL
  • 光化学初期過程の研究
  • コンプレックス状態の研究
高分子・生化学・薬学・生物物理
  • タンパク質の高次構造解析
  • 酵素活性部位の解析
半導体分野
  • 化合物半導体の少数キャリアのライフタイムの測定
  • 発光デバイス(発光ダイオード、半導体レーザ)

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