HORIBA JOBIN YVON

The subject of this page applies in:
Japan
Alternative website:
HORIBA Japan
ホーム >> 製品情報 >> 製品名から探す
製品情報 製品名から探す
製品情報TOP
  グレーティング
  モノクロメータ/検出器
  ICP発光分析装置
  マーカス型高周波
  グロー放電発光表面分析装置
  蛍光分光測定装置
  蛍光寿命測定装置
  分光エリプソメータ（膜厚計）
  半導体・液晶プロセスモニタ
  カソードルミネッセンス測定システム
  フォトルミネッセンス測定装置
  ラマン分光測定装置
  鑑識関連装置
製品一覧はこちらでもご覧になれます
グレーティング(回折格子)
【用途】
  • 光学分散素子
モノクロメータ/検出器
【用途：例】
  • 発光分光測定：プラズマ発光モニター、蛍光発光分析、天体の発光観察
  • 反射・透過測定：光学素子・材料等の評価
  • 光源評価測定：LED発光特性評価 、FPD発光特性評価、レーザー発振波長モニター
  • 色選別測定：フォトディテクタ、ペットボトルの選別
ICP発光分析装置
【用途：例】
  • 製品管理、製品開発
  • 材料分析
  • 環境の管理
  • 健康管理と安全性確認
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置
【用途：例】
表面分析
（CVD・PVDによる成膜、メッキ処理品、アルマイト、半導体多層膜品、イオン注入品、塗装処理品、表面改質品）
バルク分析
（金属、半導体薄膜、セラミックス膜、ガラス膜の定量分析）
蛍光分光測定装置
【用途：例】
  • 有機EL素子の研究開発
  • 蛍光スペクトルの測定、蛍光寿命測定、燐光スペクトルの測定
  • 近赤外領域の蛍光測定に対応、赤外領域の蛍光測定に対応、アンチ・ストークス蛍光測定対応
  • ストップドフロー対応、タイトレーション（滴定）対応、蛍光マイクロプレートリーダー対応
  • サンスクリーン剤の評価や肌のコラーゲンの評価に最適
蛍光寿命測定装置
【用途：例】
  • 有機EL
  • 光化学初期過程の研究
  • コンプレックス状態の研究
  • タンパク質の高次構造解析
  • 酵素活性部位の解析
  • 化合物半導体の少数キャリアのライフタイムの測定
  • 発光デバイス（発光ダイオード、半導体レーザ）
分光エリプソメータ（膜厚計）
【用途：例】
  • 有機EL素子の研究開発
  • 半導体、LCD、光学薄膜等の膜厚及び光学パラメータの測定
半導体・液晶プロセスモニタ
【用途：例】
  • プラズマプロセス分析装置
  • エッチング・成膜プロセスモニタに最適
カソードルミネッセンス測定システム
【用途：例】
  • 半導体等の不純物・欠陥評価
  • 応力分布評価
  • 酸化膜の欠陥構造分布評価
  • 発光素子の評価
  • 電子デバイスの基盤材料の評価
  • デバイスの特性解析
  • 三次元的量子構造の評価
フォトルミネッセンス測定装置
【用途：例】
  • 化合物半導体エピ層の組成分析
  • 発光材料の欠陥
  • 界面の評価
  • 光集積回路の非破壊評価
ラマン分光測定装置
【用途：例】
  • 高分子資料測定
  • 機能性材料研究
  • プロセスモニター測定
  • 医学応用
鑑識関連装置
【用途：例】
  • 鑑識全般
  • 指紋検索、足跡痕、爆薬の残留痕
  • 文書、トラベラーチケット、印紙等の偽造調査

On this website

Search