シムショット機能が多数の波長で複数要素を一気に取得。
ACTIVAシリーズは、WAV(1度に取り込み可能な波長範囲)内であらゆる元素とそのバックグランドを同時分析するシムショット機能を搭載。一度に取得した複数波長から75ポイントのデータを30秒未満で取得。ICP発光分析の効率を大きく高めます。

シムショット分析は、1つのWAV内のバックグランドと共にマルチラインを同時に分析します。マルチWAV測定は、複数のWAVを用いて試料の“指紋”情報を記録していきます。図例(a)は7つのWAVを、(b)は1つのWAVの詳細を示します。

160nm〜800nmという幅広い波長での分析が可能。
ACTIVAシリーズは、光学収差の少ないホリバ･ジョバンイボンホログラフィックグレーティングと幅2048ピクセルのCCD検出器を組み合わせたことで、8nm〜16nmのWAVウィンドウを取得。測定可能な波長範囲は、160〜800nmと広い範囲をカバーし、任意の要素・波長での分析ができる柔軟性を達成しています。

グレーティングとCCDの組み合わせで、高精度を実現。
グレーティングと高機能なCCD検知器と組み合わせは、測定データの高精度さにも大きく貢献しています。分光された光束パターンを2次元像としてリアルタイムにCCD検出器で取得。そのリアルタイム・リアルイメージから、プラズマコンディションの最適化や、高速WAVスキャン測定(WAV IMAGE機能)が可能になりました。