HORIBA JOBIN YVON

The subject of this page applies in:
Japan
Alternative website:
HORIBA Japan
ホーム >> 製品情報 >> 製品名から探す >> 分光エリプソメータ(膜厚計) >> 分光エリプソメータ UVISELによる太陽電池構造の評価
製品情報 製品名から探す分光エリプソメータ(膜厚計)
分光エリプソメータ UVISEL
製品カテゴリ一覧
分光エリプソメータ(膜厚計)TOP
アプリケーションノート TOP
太陽電池

分光エリプソメータ UVISELによる太陽電池構造の評価

Characterization of Photovoltaic(PV) Structures by Spectroscopic Ellipsometer UVISEL
概要
太陽電池分野において、PV構造の光学評価は以下の目的に対して不可欠となります。
 a) R&Dへの迅速なフィードバック
 b) 大型パネル・デバイスの均一性制御

In the field of solar cells, the benefits of PV structure's opticalcharacterization are indispensable:
 a) Quick feed-back to R&D
 b) Uniformity control of large area panels/devices

評価可能なPV構造/Possible PV structures:
 1) 結晶系/Crystalline PV: Si, GaAs
 2) 薄膜系/Thin film PV: μc-Si, a-Si, a-Si/μ-Si, multi-junction device
 3) 化合物系/Compound Semiconductor PV: CIGS
 4) 有機系/Organic PV
 5) 反射防止膜、透明導電膜/Anti-reflection coating, textured TCO

<薄膜太陽電池/Thin Film PV structures>
薄膜太陽電池/Thin Film PV structures

<有機太陽電池/Organic PV structures>
有機太陽電池/Organic PV structures
アプリケーションノート
関連製品

On this website

Search