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分光エリプソメータ(膜厚計)
>> エリプソの手引き
一覧
エリプソメトリとは?
・
解析内容
原理
分光エリプソの必要性
・
薄膜1層の場合 (1)
・
薄膜1層の場合 (2)
・
多層膜の場合
特徴と欠点
測定方法
JYエリプソメータ
・
構成
・
測定結果
・
測定データの解析
解析手順
光学定数の設定
・
参照試料の光学定数
・
分散式
・
Classical分散式
平均一・不連続な膜の解析
・
有効媒質近似(EMA)
・
解析例
解析困難なサンプル
解析手順
エリプソメータ製品情報
実際の材料構造と同じようにモデルをたてます。モデルは
基板は何か?
各層の膜厚(d)は?
各層の光学定数は?
(n?, k? or
)
各層の組成は?
(例)
これらの項目を仮定し、誘電率の波長依存性を示した式(DSP*)を用いてモデルをたてる
DSP*
:
Dispersion(分散式)
モデルから理論的に求められる
(
) ,
(
)
分光測定データ
(
) ,
(
)
最小二乗法を用いて、 (
(
) ,
(
) )と (
(
) ,
(
)) の違いが最小になるように とDSPのパラメータをフィッティングする その結果、測定データとモデルが
合わない
合う
さらにモデルの構成物質を追加・変更して解析を行う
(例)
結果を確認する
悪い
良い
d 及び計算されたDSPパラメータから
n,k
が求まる
エリプソメータ製品情報
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