HORIBA JOBIN YVON

The subject of this page applies in:
Japan
Alternative website:
HORIBA Japan
製品情報 製品名から探すエリプソの手引き
製品カテゴリ一覧
分光エリプソメータ(膜厚計)TOP
  一覧
  原理
アプリケーションから探す
FPD
化合物半導体
歪みSi
アプリケーションノート TOP
半導体
ゲートインスレータ
Low-K
SOI (SOI、SiMox)
強誘電体
フォトレジスト
コーティング
ストレージ
バイオ
JYエリプソメータの構成は?
エリプソメータ製品情報
測定した結果、どのようなデータが得られるのでしょうか?
JYエリプソメータで測定したデータは下図のように、横軸にエネルギー、縦軸にPsi, Deltaが表示されます。ここでは参考に下記のような材料のスペクトルをプロットしました。
例)シリコン基板上の自然酸化膜 20
入射角度 : 75度
エネルギー範囲 : 1.5-5.0eV


これら Psi, Delta のデータ中には入射角度(75度)・波長(1.5-5.0eV)・サンプルの情報(基板・膜の光学定数、SiO2膜厚)全てが含まれています。
測定データψ(λ),Δ(λ)から、各層の未知数n.k.dを求めるには?
分光測定終了後、得られたデータから各層の n,k,d を求めるには、どのようにしたら良いのでしょうか?
() , () を測定
測定した() , () からは、知りたいと思っている各層の膜の n,k,d を直接計算することは出来ない
モデルをたてて、解析する必要がある
エリプソメータ製品情報

On this website

Search