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分光エリプソメータ(膜厚計)
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エリプソメトリとは?
・
解析内容
原理
分光エリプソの必要性
・
薄膜1層の場合 (1)
・
薄膜1層の場合 (2)
・
多層膜の場合
特徴と欠点
測定方法
JYエリプソメータ
・
構成
・
測定結果
・
測定データの解析
解析手順
光学定数の設定
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参照試料の光学定数
・
分散式
・
Classical分散式
平均一・不連続な膜の解析
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有効媒質近似(EMA)
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解析例
解析困難なサンプル
JYエリプソメータの構成は?
エリプソメータ製品情報
JYエリプソメータで測定したデータは下図のように、横軸にエネルギー、縦軸にPsi, Deltaが表示されます。ここでは参考に下記のような材料のスペクトルをプロットしました。
例)シリコン基板上の自然酸化膜 20
入射角度
:
75度
エネルギー範囲
:
1.5-5.0eV
これら Psi, Delta のデータ中には入射角度(75度)・波長(1.5-5.0eV)・サンプルの情報(基板・膜の光学定数、SiO2膜厚)全てが含まれています。
分光測定終了後、得られたデータから各層の n,k,d を求めるには、どのようにしたら良いのでしょうか?
(
) ,
(
) を測定
測定した
(
) ,
(
) からは、知りたいと思っている各層の膜の n,k,d を直接計算することは出来ない
モデルをたてて、解析する必要がある
エリプソメータ製品情報
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