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分光エリプソメータ(膜厚計)
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エリプソメトリとは?
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解析内容
原理
分光エリプソの必要性
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薄膜1層の場合 (1)
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薄膜1層の場合 (2)
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多層膜の場合
特徴と欠点
測定方法
JYエリプソメータ
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構成
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測定結果
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測定データの解析
解析手順
光学定数の設定
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参照試料の光学定数
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分散式
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Classical分散式
平均一・不連続な膜の解析
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有効媒質近似(EMA)
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解析例
解析困難なサンプル
エリプソメータの測定方法は?
エリプソメータ製品情報
一般的に、エリプソメータの測定方法としては主に2つの方法に分けられ、それぞれ下記のような長所・短所を持っています。
エリプソメータ測定方法
回転検光子法
位相変調法
検光子を回転させて反射光の偏光状態を観測し、
と
を検出
☆長所
装置の構成が簡単なので、
= 90°付近で精度が良い
★短所
測定時間が長い
= 0,180° 付近で精度が悪いため、k > 0.1 しか測れない
光弾性変調器 (PEM) の働きにより、高速で
と
を検出
☆長所
精度が良い
測定時間が短い
機械的な振動がない
★短所
温度変化に弱い
PEM に波長依存性があるので、キャリブレーションが必要
JY 採用
エリプソメータ製品情報
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