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分光エリプソメータ(膜厚計)
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エリプソメトリとは?
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解析内容
原理
分光エリプソの必要性
・
薄膜1層の場合 (1)
・
薄膜1層の場合 (2)
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多層膜の場合
特徴と欠点
測定方法
JYエリプソメータ
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構成
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測定結果
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測定データの解析
解析手順
光学定数の設定
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参照試料の光学定数
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分散式
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Classical分散式
平均一・不連続な膜の解析
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有効媒質近似(EMA)
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解析例
解析困難なサンプル
分光エリプソメータの特徴と欠点は?
エリプソメータ製品情報
☆分光エリプソの長所
測定量の増加(単一波長のように独立したパラメータを増やすのではなく、物理的に意味を持ったパラメータの増加)
波長変化による、相関関係の減少
測定・解析精度の向上
界面やラフネスなど、複雑なサンプル構造の解析可能
★分光エリプソの欠点
値段が高い
解析が難しい
エリプソメータ製品情報
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