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分光エリプソメータ(膜厚計)
>> エリプソの手引き:分光エリプソの必要性
一覧
エリプソメトリとは?
・
解析内容
原理
分光エリプソの必要性
・
薄膜1層の場合 (1)
・
薄膜1層の場合 (2)
・
多層膜の場合
特徴と欠点
測定方法
JYエリプソメータ
・
構成
・
測定結果
・
測定データの解析
解析手順
光学定数の設定
・
参照試料の光学定数
・
分散式
・
Classical分散式
平均一・不連続な膜の解析
・
有効媒質近似(EMA)
・
解析例
解析困難なサンプル
分光エリプソの必要性
なぜ単一波長エリプソではなく、
分光エリプソメータが必要なのか?
エリプソメータ製品情報
測定量
:
,
未知数
:
n,d
(
k
= 0 )
tan
=
P
(
n,k,d
)
★欠点
測定精度が悪い
膜厚が 100
以下の薄膜では
n,d
の区別が付かない。
厚い膜に関しては、大体の厚さの範囲が分からなければ、膜厚の決定が出来ない
2つの測定量から2つの未知数を求めることは出来る
しかし
単一波長エリプソで測定・解析可能
測定量
:
,
未知数
:
n,k,d
2つの測定量から3つの未知数を求めることは出来ない
よって通常の単一波長エリプソ測定では解析不可能
なぜ?
入射角度を変化させて測定(
',
')
異なる波長のレーザーを用いて測定
以上のように測定量を増やしても解析困難
(
,
)と(
',
')に強い相関関係が見られるため、独立した
n,k,d
を計算出来ない
波長を変化させても、各波長で得られる測定量がそれぞれ独立しているため、結局2つの測定量から3つの未知数は計算できない
測定量
:
,
未知数
:
2つの測定量から多数の未知数を求めることは出来ない
よって単一波長エリプソ測定にて解析不可
単一波長エリプソメータではなく分光エリプソメータが必要
なぜ?
入射角度を変化させて測定し、測定量を増やしても
時間がかかる
相関関係強いため、独立した
n,k,d
を計算出来ない
エリプソメータ製品情報
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