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分光エリプソメータ(膜厚計)
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エリプソメトリとは?
・
解析内容
原理
分光エリプソの必要性
・
薄膜1層の場合 (1)
・
薄膜1層の場合 (2)
・
多層膜の場合
特徴と欠点
測定方法
JYエリプソメータ
・
構成
・
測定結果
・
測定データの解析
解析手順
光学定数の設定
・
参照試料の光学定数
・
分散式
・
Classical分散式
平均一・不連続な膜の解析
・
有効媒質近似(EMA)
・
解析例
解析困難なサンプル
エリプソメータの原理とは?
エリプソメータ製品情報
入射光と反射光の
偏光の変化を測定する。
どうして偏光状態が変化するの?
s
偏光と
p
偏光で
位相のズレ
反射率の違い
があるため
この変化は
s
偏光と
p
偏光の位相差
:
(デルタ)
s
偏光と
p
偏光の反射振幅比角
:
tan
(プサイ)
として定義され、通常は
,
として表される
複素反射係数比
p
はエリプソメトリー角
,
を使って次式のように表される
(
,
)は
波長(
)
入射角度(
)
膜厚(
d
)
物質の光学定数
(複素屈折率
:
N
または複素誘電率
:
E
)
これらのパラメータによって変化する。
(
,
)が求まれば、ここから
膜厚(
d
)
物質の光学定数(
N
or
E
)
を計算することができる。
複素屈折率や複素誘電率からは下記の式を通して
最終的に各層の膜の屈折率(
n
)や消衰係数(
k
)が求められる
エリプソメータ製品情報
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