HORIBA JOBIN YVON

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エリプソメータの原理とは?
エリプソメータ製品情報
入射光と反射光の
偏光の変化を測定する。
どうして偏光状態が変化するの?
s偏光とp偏光で
  • 位相のズレ
  • 反射率の違い
があるため
この変化は
s 偏光とp 偏光の位相差:(デルタ)
s 偏光とp 偏光の反射振幅比角:tan(プサイ)
として定義され、通常は,として表される
複素反射係数比
pはエリプソメトリー角,を使って次式のように表される
,)は
  • 波長(
  • 入射角度(
  • 膜厚( d
  • 物質の光学定数
    (複素屈折率:N または複素誘電率:E
これらのパラメータによって変化する。
,)が求まれば、ここから
  • 膜厚( d
  • 物質の光学定数(N or E
を計算することができる。
複素屈折率や複素誘電率からは下記の式を通して

最終的に各層の膜の屈折率( n )や消衰係数( k )が求められる
エリプソメータ製品情報

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