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分光エリプソメータ(膜厚計)
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エリプソメトリとは?
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解析内容
原理
分光エリプソの必要性
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薄膜1層の場合 (1)
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多層膜の場合
特徴と欠点
測定方法
JYエリプソメータ
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構成
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測定結果
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測定データの解析
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分散式
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Classical分散式
平均一・不連続な膜の解析
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有効媒質近似(EMA)
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解析例
解析困難なサンプル
不均一・不連続な膜はどのように解析するのでしょうか?
エリプソメータ製品情報
これまで、薄膜の解析に関して、膜は均質かつ連続で、平行平面膜であると仮定してきました。しかし、実際の膜は通常、不均質・不連続であったり、膜面および界面にラフネスが存在します。ではこの場合、どのように解析したら良いのでしょうか?
解析時の仮定
膜表面は散乱がなく、平らである
全ての物質は等方性(均質)かつ連続である
実際は・・・
すべての膜は原子レベルで見ると不均質・不連続
膜面・界面にラフネスが存在
どのように解析すればよいのか?
有効媒質近似を使用
エリプソメータ製品情報
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